EdgeTech+ West 2024
2024年7月11日（木）～7月12日（金）
AI/生成AIで加速する事業変革と産業DX
・Armマイコン向け開発環境 EVRICA/Arm純正開発環境
・3DCGでAIモデルの学習を効率化 教師データ生成サービス
・ソフトウェア性能評価 動的解析ソリューション
・「仮想空間」で行う外観検査光学システム設計シミュレータ
・異常検知・外観検査 AI画像解析ソリューション 良品学習
・Arm純正 開発ツール Arm® Keil® MDK v6
・見どころ満載、詳細は以下出展内容をご覧ください。
出展内容
今やソフトウェアテストのスタンダードとなりつつある”RAMモニタ"手法をご提案
車載のソフトウェアテストをはじめ、あらゆるテストシーンで導入が増えているRAMモニタ解析。
RAMモニタテストをしたいけど、どのようなテスト手法なの？という疑問に対して、使用事例やデモを交えてご紹介いたしました。
PANEL再生時間 01:40
Armマイコン向け
EVRICA / Arm純正開発環境
組込みシステム・ソフトウェア
画像解析AI「教師データ生成サービス」
CG技術を活用して画像AIの教師データを作成することで、AIの精度向上と開発サイクルの短縮をサポートいたします。
画像AIの精度はデータの量と質に大きく左右されます。その一方で、必要とされる量、質のデータを、短期間で集めるのは非常に困難であり、それが原因で本番運用で成果が出ないケースが数多くあります。
本サービスは、不足する教師データを補うため、3DCGを活用してオーダーメイドの教師データセット(画像＋アノテーションデータ)を作成します。
再生時間 00:51
AI推論モデル開発の課題改善
教師データ生成サービス
3DCGでAIモデルの学習を効率化
「仮想空間」で行う外観検査機構シミュレータ
外観検査を成功させるためには、カメラ、照明、ワークの位置関係、カメラのレンズの種類、照明の強さなどが非常に重要です。しかし、製造現場では、これらすべてを個別に調整するのに多くの時間と工数がかかり、自動化が難しいという課題があります。
本シミュレータは、仮想空間上でカメラ、照明、ワークの位置関係を再現し、適切な光量やカメラ角度を自動で算出します。これにより、外観検査の設定調整にかかる手間を大幅に削減し、効率的な自動化を実現します。
再生時間 01:29
外観検査光学システム設計シミュレータ
バーチャル空間で外観検査光学システムの設計時間を短縮
外観検査・画像検知AIソリューション「良品学習」
従来のAI画像検査では数千枚～数万枚の教師データが求められる中、「良品学習」ソリューションでは、数十枚の良品画像だけで高精度のAIモデルを実現しています。これにより画像検査をためらっていた現場や、コスト面での懸念からAI開発を先延ばしにしていたお客様にも適したソリューションとなります。
本ソリューションの試用版もご用意しております。是非とも、お気軽にご相談ください。
最新のArm純正開発環境『Keil® MDK Version6』展示
Arm正規代理店として長年にわたる実績を基に、低消費電力で高性能なIoTデバイスとして、Arm®プロセッサ・マイコンを採用されるお客様へ、Arm純正の統合開発環境を含む最新ソリューションをご提案します。
世界標準である『Keil® MDK』の最新リリースバージョン6の機能・操作性を御覧いただきました。
再生時間 01:55
NEWリリース
Arm® Keil® MDK v6
Arm純正 開発ツール
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