2024/06/07

「EdgeTech+ West 2024」出展のお知らせ

「EdgeTech+ West 2024」 に出展します

開催日時

2024年7月11日(木)~7月12日(金)10:00~17:00

会場

グランフロント大阪 北館 B2F コングレコンベンションセンター
大阪市北区大深町3-1 グランフロント大阪 北館 B2F

費用

無料[事前来場登録制]

展示会詳細

詳細・事前登録はこちら

EdgeTech+ West 2024 小間図

小間番号

■ DTSインサイトブース A-J28

■ ソフトウェア処理の可視化やシステムの可視化ソリューションをご提案いたします。

「プラットフォームの置き換えで、ハードウェアのスペックアップしたものの、実機動作で目標スペックに届かない」「ソフトウェアの性能が上がらない」という課題に対して、お客様のターゲット環境に最適な解析方法をユースケース事例やデモにてご紹介いたします。

coming soon

■ Arm正規代理店として長年にわたる実績を基に、低消費電力で高性能なIoTデバイスとして、Arm®プロセッサ・マイコンを採用されるお客様へ、Arm純正の統合開発環境を含む最新ソリューションをご提案します。

最新のArm純正開発環境『Keil® MDK Version6』を展示します。世界標準である『Keil® MDK』の最新リリースバージョン6の機能・操作性を御覧ください。

arm
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■ 今やソフトウェアテストのスタンダードとなりつつある”RAMモニタ"手法をご提案いたします。

車載のソフトウェアテストをはじめ、あらゆるテストシーンで導入が増えているRAMモニタ解析。
RAMモニタテストをしたいけど、どのようなテスト手法なの?という疑問に対して、使用事例やデモを交えてご紹介いたします。

EVRICA EVRICA
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■ 外観検査・画像検知AIソリューション「良品学習」

従来のAI画像検査では数千枚~数万枚の教師データが求められる中、「良品学習」ソリューションでは、数十枚の良品画像だけで高精度のAIモデルを実現しています。これにより画像検査をためらっていた現場や、コスト面での懸念からAI開発を先延ばしにしていたお客様にも適したソリューションとなります。
会場ではこのソリューションをお試し出来るデモンストレーションをご用意しております。是非とも、お気軽にご相談ください。

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■ 画像解析AI「教師データ生成サービス」

CG技術を活用して画像AIの教師データを作成することで、AIの精度向上と開発サイクルの短縮をサポートいたします。
画像AIの精度はデータの量と質に大きく左右されます。その一方で、必要とされる量、質のデータを、短期間で集めるのは非常に困難であり、それが原因で本番運用で成果が出ないケースが数多くあります。
本サービスは、不足する教師データを補うため、3DCGを活用してオーダーメイドの教師データセット(画像+アノテーションデータ)を作成します。

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■ 「仮想空間」で行う外観検査機構シミュレータ

外観検査を成功させるためには、カメラ、照明、ワークの位置関係、カメラのレンズの種類、照明の強さなどが非常に重要です。しかし、製造現場では、これらすべてを個別に調整するのに多くの時間と工数がかかり、自動化が難しいという課題があります。

本シミュレータは、仮想空間上でカメラ、照明、ワークの位置関係を再現し、適切な光量やカメラ角度を自動で算出します。これにより、外観検査の設定調整にかかる手間を大幅に削減し、効率的な自動化を実現します。

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