「EdgeTech+ 2023」出展のお知らせ

開催日時

2023年11月15日（水）～11月17日（金）　10:00～17:00（16日（木）のみ18:00まで）

会場

パシフィコ横浜　展示ホール／アネックスホール
神奈川県横浜市西区みなとみらい1-1-1

費用

無料（事前登録制）

展示会詳細

詳細・事前登録はこちら

小間番号

■ DTSインサイトブース　C-B19
■ オートモーティブ ソフトウエア エキスポ　C-Z07
■ Armパビリオン　A-B04

■ 動的テストツール「TRQerシリーズ」＋リアルタイムRAM計測ツール「EVRICA」

動的テストツール「TRQerシリーズ」とリアルタイムRAM計測ツール「EVRICA」の技術を統合したコンセプトモデルを参考展示します。
各ツールで取得した複数データを同期して解析することで、稀に発生する不具合の解析に役立てることが可能です。
ソフトウェアの可視化、リアルタイムRAM計測、各々で持っていた技術を統合することでソフトウェアの品質向上・性能改善・不具合解析を加速します。

■ Arm純正開発環境「Arm® Development Studio」「Keil® MDK」

Arm純正開発環境「Arm® Development Studio」「Keil® MDK」を展示します。
「Keil® MDK」ではルネサスエレクトロニクス製RAファミリ評価ボードと接続した実機デモ環境をお見せします。世界標準である「Keil® MDK」の機能・操作性を御覧ください。

■ ソフトウェア開発において信頼性、安全性を支援するトレーサビリティツール「microTRACER」

品質、信頼性、安全性の高いソフトウェアを効率よく開発するために、トレーサビリティを実現する製品やサービスをご紹介します。ISO26262やAutomotive SPICE等の機能安全規格に対応するための環境整備には、多くの時間と労力を必要とします。トレーサビリティツール「microTRACER」は、短期間でのトレーサビリティによる一貫性の確保を実現します。SimulinkやEnterprise Architect等のモデルツールとの連携によりこれまで以上に既存リソースを有効活用でき、更に、Redmine等のチケットシステムとの連携により変更管理や課題管理での有効活用が可能となります。

■ 外観検査・画像検知AIソリューション「良品学習」

従来のAI画像検査では数千枚～数万枚の教師データが求められる中、「良品学習」ソリューションでは、数十枚の良品画像だけで高精度のAIモデルを実現しています。これにより画像検査をためらっていた現場や、コスト面での懸念からAI開発を先延ばしにしていたお客様にも適したソリューションとなります。会場ではこのソリューションをお試し出来るデモンストレーションをご用意しております。是非とも、お気軽にご相談ください。

■ 画像解析AIのための「教師データ生成ソリューション」

「教師データ生成ソリューション」は、進化を続ける3DCGを駆使し、画像解析AIの教師データを大量に生成し提供いたします。あらゆる対象物の3DCGが作成可能なため、これまで教師データの収集が難しかったシーンや、AI導入を躊躇していたケースにも適しております。このソリューションは多岐にわたる業界やシーンに応用可能ですので、具体的なニーズや課題に合わせてのご相談をお待ちしております。

■ DXの最初の一歩を簡単にするDIST AI x IoTプラットフォーム

DXに本気で取り組む企業様のハードルを下げるお手伝いを致します。
DIST AIxIoTプラットフォームは、あたかも現場にいるかのような体験を提供します。
まずは「現場に行かなくてもわかる」から、DXに取り組みましょう！

■ SDV（Software Defined Vehicle）の開発サイクルを加速するソリューション

当社は、自動車業界に革命をもたらすSDV（Software Defined Vehicle）の開発サイクルを加速するための幅広いソリューションを提供しています。本展示では以下の５つのソリューションに焦点を当ててご紹介いたします。

当社のソリューションを活用することで、ソフトウェア開発は効率的で透明性のあるものとなり、品質向上と時間、コストの削減が実現します。当社の展示をご覧いただき、SDV時代を見据えた開発を共に実現しましょう。

１．企画から量産までの車載ソフトウェア開発支援
当社の長年にわたる車載ソフトウェア開発のノウハウを活用し、貴社の製品開発を支援します。

２．テスト自動化・リモート化
テスト自動化やリモート化を通じたCI/CDの実現により、開発プロセスを最適化し、リリースまでの効率を向上させます。

３．HypervisorとGuestOSの挙動を横断して可視化し、解析を効率化
システム全体の動作を可視化することで、デバッグや不具合解析のプロセスを向上させます。

４．トレーサビリティ管理で大規模ソフトウェア開発を支援
開発ドキュメント間の影響範囲を可視化することで、ソフトウェアの品質、信頼性、安全性を高めます。

５．CGを利用した画像AI開発の効率化
CG技術を活用して画像AIの教師データを作成することで、AIの精度向上と開発サイクルの短縮をサポートいたします。

■ Arm純正開発環境「Arm® Keil MDK」・ITbookテクノロジー製ミドルウェア「Cente」・STマイクロエレクトロニクス評価ボード「STM32シリーズ」のバンドルキット

組込み製品への導入実績が多いミドルウェア「Cente」とSTマイクロエレクトロニクス「STM32シリーズ」、「Arm Keil MDK」のバンドルキットをご紹介します。
短期間でのPoC開発に適したキットとなっており、様々なミドルウェアライセンスを選択することが可能です。評価途中でのライセンス変更も可能で新たなアイデアやコンセプトに合わせてライセンスのリプレイスが可能です。
また、「Arm Keil MDK」の動態展示も行います。

■ Arm® Cortex® -M搭載マイコンJTAG/SWD接続のみでソフトウェアの可視化＆性能解析adviceXross新機能！「シーケンスロガー」

Arm Cortex-M搭載マイコンで実行履歴を取得したいが、トレース資源が無いので諦めていた方もいると思います。動的テスト技術を流用し、最小メモリ容量・JTAG資源のみで、関数やタスクの動きをロギングし、可視化することが可能です。